学术活动主题：基于失效物理的可靠性方法及应用
地点：319学术报告厅
主讲人：恩云飞
基于失效物理的可靠性方法及应用
报告人：恩云飞 研究员
主持人：周益春 教授
时间：2018年6月10日19：30-21：30
地点：材料科学与工程学院319学术报告厅
恩云飞，工业和信息化部电子第五研究所研究员，党的十九大代表，973项目首席科学家，享受国务院政府特殊津贴专家。长期从事集成电路等高端电子元器件可靠性测试分析、可靠性设计、电子系统故障预测与健康管理等新技术方向研究工作，在电子元器件可靠性物理、试验评价方法等方面取得显著研究成果。荣获多项省部级科技进步奖，在国内外学术期刊及国际会议上发表论文六十余篇，出版专著六本、译著三本，授权国家发明专利二十九项。